Stationäres SPECTRO SPECTROLAB F Metallanalysegerät zur quantitativen Werkstoffanalyse mittels optischer Emissionsspektrometrie OES beziehungsweise Funkenspektrometrie. Das System ist auf die Analyse von Kupferbasiswerkstoffen ausgelegt. Installiert beziehungsweise dokumentiert sind die Programme CU-00 zur Standardisierung der Cu-Basis, CU-20 für Cu/Zn-Legierungen sowie CU-70 für Cu/Al-Legierungen. Das Spektrometer verfügt über drei dokumentierte Optiken und Messkanäle für zahlreiche Legierungselemente und Begleitelemente. Erfasst werden unter anderem Cu, Zn, Pb, Sn, Al, Fe, Ni, Si, Mn, Mg, Cr, Co, Cd, Sb, P und S. Zum Gerät ist umfangreiche Originaldokumentation vorhanden, darunter Prüf- und Photomultiplierprotokolle, Konfigurationsunterlagen, Standardisierungsunterlagen sowie das Bedienungshandbuch für die Software Spark Analyzer Vision. Weiterhin sind verschiedene Rekalibrations und Referenzproben sowie Zubehörteile vorhanden. Ein vorhandener Analyseausdruck vom 20.12.2022 dokumentiert den praktischen Einsatz des Systems zur Analyse von CuZn40Pb2 Werkstoffen. Der Ausdruck weist Messwerte für zahlreiche Legierungs und Spurenelemente aus. Das Gerät wird zur stationären Metall und Legierungsanalyse im Labor und in der Qualitätssicherung eingesetzt.

Gebrauchter Zustand mit alters und nutzungsbedingten Gebrauchsspuren. Das Gerät stammt aus dem Jahr 2004. Umfangreiche gerätespezifische Dokumentation, Zubehör und Rekalibrations beziehungsweise Referenzproben sind vorhanden. Eine Nutzung beziehungsweise Durchführung von Werkstoffanalysen ist durch vorhandene Analyseausdrucke aus Dezember 2022 dokumentiert. Der aktuelle Funktions, Kalibrier und Standardisierungszustand wurde nicht abschließend geprüft. Eine aktuelle Messgenauigkeit oder Kalibrierung wird daher nicht zugesichert.

Lieferumfang:
1 SPECTRO SPECTROLAB F Metallanalysegerät
Vorhandene Rekalibrations und Referenzproben
Verschiedene Probenkörper und Standards
Satz Kabel beziehungsweise vorhandene Anschlussleitungen
Kleinteile und Verbrauchsmaterial
Adapter für Kleinteile
Vorhandene Bornitridscheiben
Vorhandenes SPECTRO Zubehör
Software und Datenträger, darunter SPECTRO Data Backup
Dokumentation und Prüfunterlagen
Bedienungshandbuch Spark Analyzer Vision
Unterlagen zu DIA 2000 und DIA2000SE
Photomultiplier Prüfprotokolle
Konfigurations und Standardisierungsunterlagen
PC, Monitor sind in den ursprünglichen Lieferunterlagen aufgeführt. Ob diese Komponenten Bestandteil des aktuell vorhandenen Lieferumfangs sind, ist nicht eindeutig feststellbar.

* Bestellnummer: LAVFC01A
* Serie: SPECTROLAB F
* Baujahr: 2004
* Messverfahren: Optische Emissionsspektrometrie OES / Funkenspektrometrie
* Ausführung: Stationäres Metallanalysegerät
* Auslesesystem: MIKRO 8
* Kalibrierung: Cu-Basis
* Anwendungen: Cu-20 / Cu-70
* Standardisierung: CU-00 – Cu-Base
* Installierte Programme: CU-00 – Standardisation Cu-Base; CU-20 – Cu/Zn-Legierungen; CU-70 – Cu/Al-Legierungen
* Optisches System: 1 × UV-Optik mit 6 Linien; 2 × Luftoptiken mit 13 / 7 Linien
* Optik 1: 3600 / 750
* Optik 2: 3600 / 750
* Optik 3: 2400 / 750
* Monochromator: Nein
* Anregungsquelle: 3000 / 300 Hz / Pure Ar
* Betriebsspannung: 230 V
* Netzfrequenz: 50 Hz
* Eingangsversorgung Typenschild: 230 VAC / 50/60 Hz
* Leistung: 1500 VA
* Betriebssprache: Deutsch
* Dokumentierte Elemente: Cu, Zn, Pb, Sn, Al, Fe, Ni, Si, Mn, Mg, Cr, Co, Cd, Sb, P, S
* Dokumentierte Wellenlängen / Messlinien: P 178,287 nm; S 180,731 nm; Sn 189,989 nm / 317,502 nm; Sb 206,833 nm; Cd 228,802 nm; Mn 263,817 nm / 293,306 nm; Cr 267,716 nm; Fe 273,074 nm / 371,994 nm; Mg 285,213 nm; Si 288,160 nm / 390,553 nm; Cu 296,117 nm / 453,082 nm; Al 308,216 nm / 394,403 nm; Zn 334,502 nm / 472,216 nm; Co 345,351 nm; Ni 352,454 nm / 376,946 nm; Pb 405,782 nm
* Photomultiplier: Überwiegend R6350, einzelne UV-Kanäle R6351
* Software: DIA 2000 Basis / DIA2000SE; Spark Analyzer Vision
* Software Version: 1.40.0005
* Handbuchversion Spark Analyzer Vision: 09/2004

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* Länge: ca. 80 cm
* Breite: ca. 150 cm
* Höhe: ca. 160 cm